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2023-526
電容充放電測(cè)試?yán)昧穗娙萜髟诓煌瑺顟B(tài)下的電荷儲(chǔ)存和釋放特性,通過(guò)測(cè)量電容器存儲(chǔ)電荷的時(shí)間和電壓,計(jì)算電容值,同時(shí)還能判斷電容器是否好壞。廣泛應(yīng)用于電子制造企業(yè)中,主要用于生產(chǎn)線測(cè)試和維修,可對(duì)信號(hào)電容、濾波電容、隔離電容、補(bǔ)償電容、耦合電容等多種電容進(jìn)行測(cè)試。同時(shí)也適用于教學(xué)測(cè)試、電路維護(hù)和科研等領(lǐng)域中。在各個(gè)應(yīng)用場(chǎng)景中,它都是一種非常重要且基礎(chǔ)的工具設(shè)備。電容充放電測(cè)試準(zhǔn)備工作:1.準(zhǔn)備好測(cè)試設(shè)備:電容、萬(wàn)用表、電源等。2.接線:將電源正極和電容正極連接,將電源負(fù)極和電容負(fù)...
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2023-424
介電性能是物質(zhì)對(duì)電場(chǎng)激勵(lì)響應(yīng)的一種特定性質(zhì),對(duì)于許多應(yīng)用來(lái)說(shuō)非常重要,例如電力系統(tǒng)中的電介質(zhì)、絕緣體、電容、微波材料等。通過(guò)將樣品置于高溫環(huán)境下,并對(duì)其進(jìn)行交流或者直流電場(chǎng)的激勵(lì),測(cè)量其對(duì)電場(chǎng)的響應(yīng),從而確定樣品的介電性能。通常,高溫介電測(cè)試需要以數(shù)千伏甚至數(shù)十千伏的交變或者直流電壓加在測(cè)試樣品上,因此需要特殊的測(cè)試設(shè)備。高溫介電測(cè)試的組成部分:介電常數(shù)也被稱為相對(duì)電容,它是衡量物質(zhì)介電能力的一個(gè)物理量。在電場(chǎng)下,介電常數(shù)表示物質(zhì)增加或者減少儲(chǔ)存能量的能力。此參數(shù)的數(shù)值越高,...
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2023-414
變溫鐵電測(cè)試是一種用于研究鐵電材料性質(zhì)的方法,鐵電材料是指在電場(chǎng)作用下呈現(xiàn)出特殊電學(xué)性質(zhì)和物理性能的材料。它們?cè)谠S多應(yīng)用中都具有重要的地位,如存儲(chǔ)器、傳感器和非易失性存儲(chǔ)器等。變溫鐵電測(cè)試可以研究鐵電樣品的熱力學(xué)性質(zhì)和溫度依賴性,并且通過(guò)控制溫度來(lái)對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。使用交流信號(hào)測(cè)量鐵電樣品的介電常數(shù)和轉(zhuǎn)化溫度。由于鐵電性質(zhì)存在循環(huán)極化(P)與電場(chǎng)(E)的關(guān)系,所以我們可以在頻率為100kHz的感應(yīng)電磁場(chǎng)中測(cè)量樣品的介電常數(shù)。測(cè)試時(shí),將樣品制成片狀,上下極板分別放置在測(cè)試平臺(tái)上,通...
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2023-327
高低溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)之阻抗分析儀的選型武漢研禾科技有限公司高低溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)是一款用來(lái)測(cè)量分析材料的介電常數(shù)、介電損耗隨溫度和頻率變化關(guān)系的測(cè)試設(shè)備。我司目前已經(jīng)上市的產(chǎn)品有:?jiǎn)瓮ǖ栏邷亟殡姕刈V測(cè)試系統(tǒng)(研禾科技,DPTS-RT-600S/DPTS-RT-1000S)、多通道高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)(研禾科技,DPTS-RT-600/DPTS-RT-1000),單通道+四通道的高低溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)(研禾科技,DPTS-3000),用戶根據(jù)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試需求、測(cè)試量的情況來(lái)選擇...
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2023-327
鐵電材料測(cè)試方法包括電性測(cè)試、結(jié)構(gòu)測(cè)試、熱學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等。其中,電性測(cè)試是其重要方法之一,常用的測(cè)試方法包括極化電流測(cè)試、電容測(cè)試、介電常數(shù)測(cè)試等。電流測(cè)試是通過(guò)施加電場(chǎng)并測(cè)量樣品的極化電流來(lái)測(cè)試鐵電材料的極化性質(zhì)。電容測(cè)試是通過(guò)測(cè)量樣品在不同電場(chǎng)下的電容變化來(lái)測(cè)試鐵電材料的極化性質(zhì)。介電常數(shù)測(cè)試是通過(guò)測(cè)量樣品在不同頻率下的介電常數(shù)來(lái)測(cè)試鐵電材料的電性質(zhì)。結(jié)構(gòu)測(cè)試是對(duì)晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試,包括X射線衍射、中子衍射、電子顯微鏡等。熱學(xué)測(cè)試是對(duì)熱性質(zhì)進(jìn)行測(cè)試,包括熱膨脹測(cè)試、熱導(dǎo)...
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